নাবিক ভর্তি পরীক্ষায় প্রক্সি, ডিভাইসসহ আটক ৯

নৌপরিবহন অধিদপ্তরের সমন্বিত নাবিক ভর্তি পরীক্ষায় প্রক্সি ও ইলেকট্রনিক ডিভাইস ব্যবহার করায় ৯ পরীক্ষার্থীকে আটক করা হয়েছে।

শনিবার নৌপরিবহন মন্ত্রণালয় সংবাদ বিজ্ঞপ্তিতে এ তথ্য দিয়েছে।

বিজ্ঞপ্তিতে বলা হয়, শনিবার ঢাকা মহানগরীর তিনটি কেন্দ্রে এ ভর্তি পরীক্ষা হয়েছে। এর মধ্যে শেরেবাংলা নগর সরকারি বালক উচ্চ বিদ্যালয় কেন্দ্রে পাঁচজন পরীক্ষার্থী ইলেকট্রনিক ডিভাইস ব্যবহার করতে গিয়ে হাতেনাতে ধরা পড়েন। একই কেন্দ্রে আরও এক জন পরীক্ষার্থী প্রক্সি দিতে গিয়ে ধরা পড়েন।

অপরদিকে শেরেবাংলা নগর সরকারি বালিকা উচ্চ বিদ্যালয় কেন্দ্রে আরও তিনজন ইলেকট্রনিক ডিভাইস ব্যবহার করতে গিয়ে ধরা পড়েন। তাদের বিরুদ্ধে শেরেবাংলা নগর থানায় মামলা হয়েছে।

শেরেবাংলা নগর থানার ওসি মনিরুল ইসলাম শনিবার রাতে বলেন, “পরীক্ষা চলাকালীন নয়জনকে আটক করে আমাদের কাছে হস্তান্তর করা হয়েছে। তারা থানা হেফাজতে রয়েছেন।”

তাদের কাছ থেকে বিভিন্ন ডিভাইস উদ্ধার করার কথা বলেন ওসি।